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快温变试验箱 50L高低温试验箱 快速升降温 半导体 电子产品测试性能


该设备适用于学校,工厂,军工,科研单位,实验室、高校等单位,来检测各种电子元气件在高温,低温或高低温交替环境下的各项性能指标、贮存和使用的适应性。

价格:2000.00


快温变试验箱 50L高低温试验箱 快速升降温 半导体 电子产品测试性能  


一、产品概述:

该设备适用于学校,工厂,军工,科研单位,实验室、高校等单位,来检测各种电子元气件在高温,低温或高低温交替环境下的各项性能指标、贮存和使用的适应性。


二、技术参数:

型号/名称

KB-50快温变试验箱

内胆尺寸

360*350*400mm (宽*深*高)

温度范围

-40℃~150℃

温度波动度

±0.5℃

温度均匀度

±1℃

降温速度

6℃/min

电源电压

220V/50HZ

 

三、箱体结构:

箱体造型美观大方,采用数控机床加工成型,并采用无反作用把手,操作简便。

箱体内胆采用高级不锈钢(SUS304)镜面板,箱体采用冷轧钢板静电喷塑,增加了外观质感和洁净度。

l 大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮,且利用发热体内嵌式钢化玻璃,随时清晰的观测箱内状况。箱体左侧配有测试孔,可供外接测试电源线或信号线使用。(孔径或孔数须增加定货时说明)。机器底部采用高品质可固定式PU活动轮。

 

四、控制系统:

7寸可程式彩色触摸控制器。

采用大屏触摸屏模式荧幕画面、荧幕操作简单、程式编辑容易。

控器操作界面设中英文可供选择、即使运转曲线图可由屏幕显示。

具有100组程式1000段999循环步骤的容量、每段时间设定值为99小时59分钟。

资料及试验条件输入后、控制器具有荧屏锁定功能、避免人为触摸而停机。

具有PID自动演算功能、可将温度变化条件立即修正、使温度控制更为精确稳定

具有RS-232或RS-485通讯界面、可在电脑上设计程式、监控试验过程并执行开关机功能。

可连接打印机或485通讯接口、用电脑显示、并打印温度和时间曲线、为试验过程数据储存于回放提供有力保证。

 

五、制冷系统:

制冷机采用法国原装“泰康”全封闭压缩机。

冷冻系统采用单机低温回路系统设计。

采用多翼式送风机强力送风循环,避免任何死角,可使测试区域内温湿度分布均匀。

风路循环出风回风设计,风压、风速均符合测试标准,并可使开门瞬间温度回稳时间快。

升温、降温独立可提高效率,降低测试成本,增长寿命,减低故障率。 

 

六、符合标准:

GB-2423.1-89(IEC68-2-1)试验 A:低温试验方法。

GB-2423.2-89(IEC68-2-2)试验 B:高温试验方法。

GJB360.8-87(MIL-STD-202F)高温寿命试验。

GBJ150.3(MIL-STD-810D)高温试验方法。

GJB150.4(MIL-STD-810D)低温试验方法。

GB/T 2423.2-2008 试验 B《高温试验方法》。

GB10586-89 低温试验箱技术条件

GB/T10592-89 高低温试验箱技术条件

GB10592-89 高低温试验箱技术条件

GB11158 高温试验箱技术条件

GB2423.1-89 电工电子产品基本环境试验规程 试验 A:低温试验方法

GB2423.2-89 电工电子产品基本环境试验规程 试验 A:高温试验方法

IEC60068-2-1.1990 低温试验箱试验方法

IEC60068-2-2.1974 高温试验箱试验方法